靜電防護/閂鎖試驗

靜電防護是IC半導體產品需應用的內建式電路防護要求，須抵抗外界所有電性對於內建積體電路的破壞。 Winstek ESD 實驗室可提供MIL，JDEC，ANSI，IEC，AECQ等ESD測試規範，同時提供靜電防護測試的服務之外，和測試之後的Final test 及FA等完整驗證分析服務，以及ESD試驗socket和轉板的設計製作。

測試條件

• 人體放電模式(Human Body Mode)測試
• 機器放電模式(Machine Mode) 測試
• 零件充/放電模式(Charged Device Mode) 測試
• 閂鎖效應(Latch-up) 測試
• 測試ESD I-V Curve量測

參考規範

MIL-STD(美國軍規標準)
EIA/JEDEC(固態技術協會規範)
AEC(汽車電子協會規範)
IEC(國際電工委員會)
JEITA(日本靜電防護規章)