【電性分析】
8”點針台電性量測是為了驗證及量測半導體電子元件的參數與特性利用點針( ≤4 Probers) ，搭接於IC電路，使其可以外接各電性量測儀器，以量測電性特性。 
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I-V 特性量測量測元件之電性參數及特性。量測原理是利用自動曲線追蹤儀電特性量測的方式，快速計算阻值，藉此確認各電路關係並即時篩檢出異常(Open/ Short/Leak/ High resistance) 
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紅外線顯微鏡紅外線顯微鏡，主要原理是利用紅外光波長穿透矽基材，來直接觀察元件主動區影像比對好壞品差異。 
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原子力顯微鏡原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）工作機制，是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂樑產生微細位移，以測得樣品表面形貌。 
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